結晶によるX線の回折現象とその記述

¥ 3,300(税込)

著者 奥寺 浩樹
ジャンル 専門書
出版年月日 2022/03/29
ISBN 9784863455115
判型・ページ数 A4・138ページ
定価 3,300円(税込)
在庫 在庫あり

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内容紹介

物質にX線を照射し、その反射と散乱角によって結晶構造を測定する。実践的かつ、独自学習に最適な構成で読者を導く。

目次

1.X線の散乱
2.周期配列した散乱子によるX線の散乱
3.原子配列の対称性と散乱強度の対称性
4.フーリエ変換
5.原子変位パラメーター:Atomic Displacement Parameters
6.正規分布からの逸脱:非調和性の導入
結晶によるX線の回折現象とその記述
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